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J-GLOBAL ID：201602236711582927   整理番号：16A0600144

X線マイクロトモグラフィーを用いたMgB_2ワイヤの3次元解析【Powered by NICT】

Three-Dimensional Analysis of MgB₂ Wire by use of X-ray Micro-Tomography

著者 (8件)： Inoue Masayoshi (Department of Electrical EngineeringGraduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Tatara Hiroshi (Department of Electrical EngineeringGraduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Harada Kazutaka (Department of Electrical EngineeringGraduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Higashikawa Kohei (Department of Electrical EngineeringGraduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Ye Shujun (, National Institute for Materials Science, Tsukuba, Japan) ,  Matsumoto Akiyoshi (, National Institute for Materials Science, Tsukuba, Japan) ,  Kumakura Hiroaki (, National Institute for Materials Science, Tsukuba, Japan) ,  Kiss Takanobu (Department of Electrical EngineeringGraduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University, Fukuoka, Japan)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 26  号： 3  ページ： ROMBUNNO.6201004.1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： MgB_2ワイヤのさらなる発展のために,MgB_2フィラメントとシース材料のための三次元構造の研究が重要である。しかし,光学顕微鏡や走査電子顕微鏡のような典型的な断面観察は三次元フィラメント構造を理解するために十分では本質的に,二次元なかった。本論文では,X線マイクロトモグラフィーを採用し,MgB_2ワイヤのための三次元解析を行った。X線マイクロトモグラフィー(Skyscan1172,Bruker)は1.1μmの高空間分解能でセンチメートル長MgB_2ワイヤの内部フィラメント構造を可視化することを可能にする,非破壊的であった。シース材料の間の境界と内部Mg拡散処理MgB_2ワイヤのMgB_2フィラメントを調べた。さらに,X線マイクロトモグラフィーのための信号対雑音比を改善することにより,ここではまた,MgB_2フィラメント間の境界およびホウ素とマグネシウムの低X線吸収係数にもかかわらず正孔(空気)を同定した。三次元解析から,それらの統計的分布を定量的に,またMgB_2フィラメントの形状と面積を明らかにすることができる。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *X線 ,  二次元 ,  *マグネシウム ,  走査電子顕微鏡 ,  吸収係数 ,  フィラメント ,  SN比 ,  三次元 ,  正孔 ,  ホウ素
準シソーラス用語： フィラメント構造 ,  三次元構造 ,  *ホウ化マグネシウム ,  *三次元解析 ,  *X線マイクロトモグラフィー , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 超伝導材料  (BM04041W) ,  酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線マイクロトモグラフィー ,  ワイヤ ,  3次元解析