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J-GLOBAL ID:201602240621405533   整理番号:16A1006839

RFマグネトロンスパッタリングデポジションで成長した(Na,K)NbO3薄膜の構造と電気的性質に与えるアニーリング温度の効果

Effects of annealing temperature on structure and electrical properties of (Na, K)NbO3 thin films grown by RF magnetron sputtering deposition
著者 (10件):
資料名:
巻: 27  号:ページ: 899-905  発行年: 2016年01月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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本研究は,(Na,K)NbO3膜をRFマグネトロンスパッタリングでの成長に続いてアニーリング処理で製作し,そこでKNN雰囲気はアルカリ金属の揮発を防ぐために入れられている。KNN薄膜の構造と電気的性質に与えるアニーリング温度の効果を系統的に調べた。その結果,温度上昇でKNN膜はアルカリ元素の揮発と相遷移を伴って結晶化を開始する。膜の粒径と表面品質は密接にアニーリング温度と雰囲気に依存している。(100)優先配向,大きな粒径,密なモルフォロジ,アニーリング雰囲気はすべてKNN膜の電気的性質に良く働く。特に,200°Cでデポジットして650°CでアニールしたKNN膜は,2Pr=20.8μC/cm2の十分な分極と200kV/cmの2Ec抗電場を示した。Copyright 2015 Springer Science+Business Media New York Translated into Japanese from English by JST.
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス材料  ,  酸化物薄膜 

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