特許
J-GLOBAL ID：201603004794390874
撮像装置および画像処理方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
世良 和信
, 川口 嘉之
, 和久田 純一
, 坂井 浩一郎
, 中村 剛
, 丹羽 武司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-248717
公開番号（公開出願番号）：特開2013-102951
特許番号：特許第5868132号
出願日： 2011年11月14日
公開日（公表日）： 2013年05月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 シアリング干渉計により得られる干渉パターンに基づいて位相像のデータを生成する撮像装置であって、
被検体を透過した電磁波により形成された干渉パターンのデータから、第1の方向に関する位相の変化を表す第1の微分位相データと、前記第1の方向に交差する第2の方向に関する位相の変化を表す第2の微分位相データとを抽出する微分位相データ抽出手段と、
抽出された前記第1の微分位相データを前記第1の方向に関して微分することによって第1の二階微分位相データを算出すると共に、抽出された前記第2の微分位相データを前記第2の方向に関して微分することによって第2の二階微分位相データを算出する二階微分位相データ算出手段と、
前記第1および第2の二階微分位相データを関数として含む二階微分方程式を解くことによって、前記被検体の位相像のデータを算出する位相データ算出手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (2件)：
A61B 6/00 ( 200 6.01)
, G01N 23/04 ( 200 6.01)
A61B 6/00 330 Z
, G01N 23/04
