特許
J-GLOBAL ID：201103034685569537

X線撮像装置およびX線撮像方法

発明者：
向出 大平

向出 大平 について

, 
福田 一徳

福田 一徳 について

, 
渡邉 壮俊

渡邉 壮俊 について

, 
高田 一広

高田 一広 について

, 
野間 敬

野間 敬 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-256311
公開番号（公開出願番号）：特開2011-136156
出願日： 2010年11月16日
公開日（公表日）： 2011年07月14日
要約：
【課題】取得画像に対する散乱X線の影響を軽減することが可能となるX線撮像装置およびX線撮像方法の提供を目的とする。【解決手段】X線を空間的に分割する分割素子103と、分割後被検知物104を透過したX線の強度を検出する検出手段105と、分割素子・被検知物・検出手段のいずれかを移動させる移動手段106〜108と、X線の走査速度と検出手段の画像取得速度とを同期させる露光制御手段109とを用いて、被検知物の微分位相像または位相像を演算するX線撮像装置。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
X線撮像装置であって、 X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、 前記分割素子により分割され、被検知物を透過したX線の強度を検出する検出手段と、 前記X線発生手段、前記分割素子、前記被検知物、前記検出手段のいずれかを移動させる移動手段と、 前記移動手段を用いて、前記被検知物に照射されるX線の走査速度を制御する移動制御手段と、 前記X線の走査時間と、前記検出手段の画像取得時間とを同期させる露光制御手段と、 前記検出手段によって得られた情報から、前記被検知物の微分位相像または位相像を演算する演算手段とを有することを特徴とするX線撮像装置。
IPC (2件)：
A61B 6/00 ,  G01N 23/04
FI (2件)：
A61B6/00 330Z ,  G01N23/04
Fターム (26件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA28 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G001GA03 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA04 ,  2G001JA06 ,  2G001JA07 ,  2G001LA01 ,  2G001LA02 ,  2G001LA05 ,  2G001SA01 ,  4C093AA01 ,  4C093AA29 ,  4C093CA07 ,  4C093EA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17
引用特許：
出願人引用 (7件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM