特許
J-GLOBAL ID：201603008883536047
偽造防止構造体、偽造防止媒体、及び、真贋判別装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (3件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, ▲高▼木 邦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-121602
公開番号（公開出願番号）：特開2016-000498
出願日： 2014年06月12日
公開日（公表日）： 2016年01月07日
要約：
【課題】偽造防止効果が高く且つ肉眼判別困難マークを高速に判定できる偽造防止構造体、及びこの偽造防止構造体と組み合わせて使用できる真贋判別装置を提供する。【解決手段】偽造防止構造体1は、テラヘルツ電磁波が透過可能なベース基材11と、ベース基材11の一方の面に配置され、テラヘルツ電磁波が透過可能な開口部形成層と、開口部形成層のベース基材11とは逆側の面に配置されテラヘルツ電磁波を遮断する導電性層15と、を備えている。偽造防止構造体1では、開口部形成層は電気的絶縁層であり、導電性層15は特定波長のテラヘルツ電磁波が透過可能なSRRパターン13を形成する開口部を有している。真贋判別装置は、電磁波発生手段から特定波長のテラヘルツ電磁波を、偽造防止構造体1を含む媒体に照射し、所定の基準値との差異を判定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
テラヘルツ電磁波が透過可能なベース基材と、
前記ベース基材の一方の面に配置され、テラヘルツ電磁波が透過可能な開口部形成層と、
前記開口部形成層の前記ベース基材とは逆側の面に配置され、テラヘルツ電磁波を遮断する導電性層と、を備え、
前記開口部形成層は、電気的絶縁層であり、
前記導電性層は、特定波長のテラヘルツ電磁波が透過可能な所定パターンを形成する開口部を有していることを特徴とする偽造防止構造体。
IPC (4件)：
B42D 25/30
, B42D 25/328
, G07D 7/10
, G01N 21/358
B42D15/10 300
, B42D15/10 329
, G07D7/10
, G01N21/35 106
2C005HA01
, 2C005HB10
, 2C005JB08
, 2C005LB14
, 2G059AA10
, 2G059BB20
, 2G059EE01
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059JJ11
, 2G059KK10
, 3E041AA01
, 3E041BA14
, 3E041CA01
