蛍光測定用基板

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：三好秀和 , 高橋俊一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-102994
公開番号（公開出願番号）：特開2013-231639
特許番号：特許第5988239号
出願日： 2012年04月27日
公開日（公表日）： 2013年11月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】基板上に吸着された誘電体からなる複数の微粒子と、前記複数の微粒子を埋包するように前記基板の表面から前記微粒子表面にかけて連続的に前記基板上に形成された金属層とを備え、前記金属層の一部は複数の突起部を有するとともに、前記複数の微粒子は粒径30nm〜1000nmであり、前記基板表面から前記金属層の平坦部までの前記金属層の膜厚は、前記粒径の100%以上で1000%までの厚さであることを特徴とする蛍光測定用基板。

IPC (1件)：