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J-GLOBAL ID：201702226111731400   整理番号：17A0236943

テトラグリム-マグネシウムビス(トリフルオロメタンスルホニル)アミド錯体の熱的および電気化学的安定性:溶媒和安定性に及ぼす2価カチオンの電場効果

Thermal and Electrochemical Stability of Tetraglyme-Magnesium Bis(trifluoromethanesulfonyl)amide Complex: Electric Field Effect of Divalent Cation on Solvate Stability

著者 (10件)： TERADA Shoshi (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  MANDAI Toshihiko (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  SUZUKI Soma (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  TSUZUKI Seiji (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN) ,  WATANABE Katsuya (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  KAMEI Yutaro (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  UENO Kazuhide (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  DOKKO Kaoru (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  DOKKO Kaoru (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  WATANABE Masayoshi (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 120  号： 3  ページ： 1353-1365  発行年： 2016年01月28日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： グリム類は,その多数のエーテル酸素でアルカリ金属イオンと錯形成することが知られている。ここではMg²⁺イオンとの錯形成の可否を調べる為に,種々のモル比のテトラグリム(G4)とMg[TFSA]₂(TFSA:ビス(トリフルオロメタンスルホニル)アミド)の二成分混合物の挙動を調べた。1:1のモル比では,G4がMg²⁺に配位した[Mg(G4)][TFSA]₂錯体を形成した。その融点は137°Cであり,250°C以上では,Mg²⁺イオンの脱溶媒和が起こり,G4が蒸発することが判った。遊離のG4は約140°Cで揮発が始まることから,錯体中のG4がMg²⁺との間で強い静電相互作用および誘導相互作用をしていることが判った。配位したG4は酸化に対しても安定で,遊離のG4が対Li/Li⁺の4Vで酸化が起こるのに対して配位したG4は5Vで酸化が開始し,Mg²⁺との錯化によってG4のHOMOエネルギー準位の低下が起こることを示した。

シソーラス用語： *マグネシウム錯体 ,  *溶媒和物 ,  静電相互作用 ,  *錯体生成 ,  電場効果 ,  *熱安定性 ,  *電気化学的挙動 ,  HOMO ,  アミド錯体 ,  溶媒和 ,  アニオン

分類 (4件)： 非遷移金属元素の錯体  (CE01030C) ,  電気化学反応  (CB07050F) ,  分解反応  (CF02080P) ,  分子化合物の結晶構造  (BK09050T)

物質索引 (2件)： TFSA ,  テトラグリム

タイトルに関連する用語 (9件)： テトラグリム ,  マグネシウム ,  ビス ,  アミド錯体 ,  化学的安定性 ,  溶媒和 ,  安定性 ,  2価カチオン ,  電場効果