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J-GLOBAL ID：201702235267206675   整理番号：17A0749627

温度は膜脂質の構造とネズミチフス菌のパルス電場(PEF)抵抗性を変化させる【Powered by NICT】

Temperature alters the structure of membrane lipids and pulsed electric field (PEF) resistance of Salmonella Typhimurium

著者 (5件)： Yun Ou (School of Food Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou, 510641, China) ,  Zeng Xin-An (School of Food Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou, 510641, China) ,  Brennan Charles S. (School of Food Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou, 510641, China) ,  Brennan Charles S. (Centre for Food Research and Innovation, Department of Wine, Food and Molecular Biosciences, Lincoln University, Lincoln, 85084, New Zealand) ,  Zhi-wei Liu (School of Food Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou, 510641, China)
資料名： International Journal of Food Science and Technology  (International Journal of Food Science and Technology)
巻： 52  号： 2  ページ： 424-430  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0863A  ISSN： 0950-5423  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ネズミチフス菌の膜脂質ならびにそれらのパルス電場(PEF)抵抗性の立体配座に及ぼす培養温度の影響を調べた。結果は,比較的低い温度(10および25°C)で培養したS.Typhimurium細胞は比較的高い温度(37及び45°C)で培養したそれらよりもPEF処理により容易に不活性化したことを明らかにした。Weibullモデルを用いて,45°Cで培養した90%S.Typhimurium細胞を不活性化するためのPEF処理時間は10°Cで培養したそれらと比べて約4倍ことを決定した。顕微Raman分光法の結果は,培養温度が増加すると,膜脂質鎖のC-Cおよび横方向充填秩序の秩序度も増加することを示した,膜流動性の低下をもたらした。これらの結果は,食品中の微生物汚染物質を不活性化するための熱とPEFの使用を考える上で重要である。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 立体配座 ,  加工時間 ,  *膜脂質 ,  食品 ,  顕微Raman分光法 ,  *ネズミチフス菌 ,  微生物汚染 ,  不活性化 ,  規則度
準シソーラス用語： 膜流動性 ,  Weibullモデル ,  培養温度 ,  *パルス電場 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 膜脂質の立体配座 ,  PEF抵抗 ,  パルス電場 ,  ネズミチフス菌

分類 (1件)： 食品製造・加工・保蔵法一般  (FJ03010M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 膜脂質 ,  ネズミチフス菌 ,  パルス電場 ,  抵抗性