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J-GLOBAL ID:201702235454240685   整理番号:17A0442880

GaCl_3を用いたトリ-ハロゲン化物気相エピタクシーによるアモノサーマル種子上の厚い非極性m面と半極性(10 <span style=text-decoration:overline>1</span> <span style=text-decoration:overline>1</span>)GaN【Powered by NICT】

Thick nonpolar m-plane and semipolar ( 10 <span style=text-decoration:overline>1</span> <span style=text-decoration:overline>1</span> ) GaN on an ammonothermal seed by tri-halide vapor-phase epitaxy using GaCl<sub>3</sub>
著者 (7件):
資料名:
巻: 461  ページ: 25-29  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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厚さ0.5 1~0.3mmのGaN層は非極性m面(10 <span style=text-decoration:overline>1</span> 0)及び半極性(10 <span style=text-decoration:overline>1</span> <span style=text-decoration:overline>1</span>)アモノサーマルGaN基板上に3ハロゲン化物気相エピタクシーによる~275μmμm/hの成長速度で1280°Cで成長させた。 5°オフ角を持つ非極性m面(10 <span style=text-decoration:overline>1</span> 0)では,X線ロッキング曲線(XRC)および基底面積層欠陥(BSF)密度の半値全幅(FWHM)は成長速度を115 245μm/から,それぞれ,50~178′′と4.8×10~1から1.0×10~3cm~ 1へ増加した。一方,XRC-FWHMと275μmμm/hで成長させた半極性(10 <span style=text-decoration:overline>1</span> <span style=text-decoration:overline>1</span>)のためのBSF密度は28′′と8.3×10~1cm~ 1小であった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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