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J-GLOBAL ID：201702237148889741   整理番号：17A0092583

COMPROに加えるAES・SEのデータベース;フラーレン,グラフェン(s),Se,Bi₂Se₃,SrTiO₃,GaN,W(111)

著者 (8件)： 後藤敬典 (AIST 中部セ) ,  KALITA Golap (名古屋工大) ,  種村真幸 (名古屋工大) ,  本田光裕 (名古屋工大) ,  市川洋 (名古屋工大) ,  境悠治 (山梨大) ,  吉原一紘 (シエンタオミクロン) ,  兼松渉 (AIST 中部セ)
資料名： Journal of Surface Analysis  (Journal of Surface Analysis)
巻： 23  号： 2  ページ： A.76-A.84  発行年： 2016年12月 
JST資料番号： L3852A  ISSN： 1341-1756  CODEN： JSANFX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *Augerスペクトル ,  *X線光電子分光法 ,  データベース ,  *フラーレン ,  *グラフェン ,  セレン ,  酸化ビスマス ,  チタン酸ストロンチウム ,  窒化ガリウム ,  相 ,  *Anderson局在 ,  トポロジカル相
準シソーラス用語： AESスペクトル ,  XPS法

分類 (2件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (6件)： AES ,  Se ,  データベース ,  フラーレン ,  グラフェン ,  GaN