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J-GLOBAL ID：201702237826294573   整理番号：17A0004168

界面制御による構造材料・構造体の高信頼性化 電子顕微鏡を用いた界面微細組織解析・分析技術の最前線

著者 (3件)： 井誠一郎 (物質・材料研究機構) ,  原徹 (物質・材料研究機構) ,  原徹 (金属材料技術研)
資料名： 金属  (Materials Science & Technology)
巻： 87  号： 1  ページ： 45-51  発行年： 2017年01月01日 
JST資料番号： F0157A  ISSN： 0368-6337  CODEN： KNZKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 材料を扱う上で,微小領域の情報を得る電子顕微鏡は非常に大きな役割を担っている。特に,近年の材料特性改善の大きな流れである組織制御では,ナノの領域まで入り込んでいるため,その活用は不可欠である。本稿では,電子顕微鏡による界面の解析・分析技術を,著者らの研究を中心に紹介した。初めに,高分解能観察技術について取り上げ,高強度材料の製造に有効な結晶粒微細化および粒界制御の解析の事例を示した。次に分析技術について述べ,微細構造での元素分析が従来のエネルギー分散分光技術では限界に来ているため,新たに超伝導遷移端センサの適用を進めていることを示した。最後に,動的な挙動を直接的に把握できるその場観察技術についても述べた。

シソーラス用語： *電子顕微鏡観察 ,  分析 ,  高分解能電子顕微鏡 ,  *ナノ構造 ,  *高分解能分光法 ,  センサ ,  微量熱量計 ,  その場観察
準シソーラス用語： 界面分析 ,  超伝導遷移端センサ

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (9件)： 界面制御 ,  構造材料 ,  構造体 ,  高信頼性 ,  電子顕微鏡 ,  界面 ,  微細組織 ,  解析 ,  分析