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J-GLOBAL ID：201702237931646869   整理番号：17A1363809

2つの単結晶を用いた放射光X線回折による1T-TiSe₂の高圧極低温下構造解析

著者 (9件)： 鬼頭俊介 (名大 院) ,  菅原健人 (名大 院) ,  中埜彰俊 (名大 院) ,  片山尚幸 (名大 院) ,  金子竜也 (理研) ,  前島尚行 (量研機構) ,  町田晃彦 (量研機構) ,  綿貫徹 (量研機構) ,  澤博 (名大 院)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 2  ページ： ROMBUNNO.21aF31-4  発行年： 2017年09月25日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *セレン化物 ,  *チタン化合物 ,  *X線回折 ,  単結晶 ,  結晶構造 ,  *結晶構造解析 ,  高圧 ,  極低温 ,  *セレン化チタン ,  *放射光X線回折

分類 (1件)： 金属の結晶構造  (BK06000V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 単結晶 ,  放射光X線回折 ,  高圧 ,  極低温 ,  構造解析