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J-GLOBAL ID：201702241640965168   整理番号：17A0362434

非Gaussランダム振動励起下での電子部品の加速試験のための疲労寿命予測モデル【Powered by NICT】

Fatigue life prediction model for accelerated testing of electronic components under non-Gaussian random vibration excitations

著者 (4件)： Jiang Yu (Science and Technology on Integrated Logistics Support Laboratory, College of Mechatronic Engineering and Automation, National University of Defense Technology, Changsha, China) ,  Tao J.Y. (Science and Technology on Integrated Logistics Support Laboratory, College of Mechatronic Engineering and Automation, National University of Defense Technology, Changsha, China) ,  Zhang Y.A. (Science and Technology on Integrated Logistics Support Laboratory, College of Mechatronic Engineering and Automation, National University of Defense Technology, Changsha, China) ,  Yun G.J. (Department of Mechanical and Aerospace Engineering, Seoul National University, Seoul, South Korea)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 64  ページ： 120-124  発行年： 2016年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,非Gaussランダム振動励起下での電子部品のための新しい疲れ寿命予測モデルは,ランダム振動と疲れ理論に基づいて提案した。数学モデルを包括的に電子部品の振動疲労寿命を結合し,振動励起(根平均二乗,パワースペクトル密度,スペクトル帯域幅と尖度値など)の特性と電子アセンブリの動的伝達特性(固有振動数と減衰比のような)。一方詳細な解法は,モデルにおける未知パラメータを決定するために提示した。モデルを検証するために,一連のランダム振動疲労促進試験を行った。得られた結果は,モデルに基づいて予測した疲労寿命は実際の試験と一致することを示した。疲労寿命予測モデルを振動疲労加速試験の定量的設計,Gaussおよび非Gaussランダム振動環境下での電子部品の長期疲れ信頼性を評価するために適用できるに用いることができる。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 数学モデル ,  帯域幅 ,  *加速試験 ,  *疲れ寿命 ,  パワースペクトル密度 ,  *振動励起 ,  固有振動数 ,  *不規則振動 ,  信頼性 ,  スペクトル ,  *電子部品
準シソーラス用語： 減衰比 ,  尖度 ,  *疲労寿命推定 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 疲労寿命予測 ,  加速試験 ,  電子部品 ,  非Gauss ,  ランダム振動

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 振動励起 ,  電子部品 ,  加速試験 ,  疲労寿命予測 ,  モデル