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J-GLOBAL ID:201702248567857748   整理番号:17A0469727

ジブロック共重合体リソグラフィーナノパターニングを用いたGaAs基板上の歪んだ(In)GaAs量子ドットの選択的成長【Powered by NICT】

Selective growth of strained (In)GaAs quantum dots on GaAs substrates employing diblock copolymer lithography nanopatterning
著者 (8件):
資料名:
巻: 465  ページ: 48-54  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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半導体レーザダイオード(LD)は選択領域エピタクシー(SAE)を用いた表向き厳密な(100)GaAs基板上に有機金属気相エピタクシー(MOVPE)により成長させた歪(In)GaAs量子ドット(QD)活性領域を用いて実証した。SAE QD成長は,ジブロック共重合体(BCP)リソグラフィーによって定義されたSiN_xナノパターン化したマスクを採用した。,QDのSAEの前に,四臭化炭素(CBr_4)を用いたその場エッチングはナノパターン移動過程中に導入された加工関連損傷を除去するための有効であることを示し,最適その場エッチング条件下でLDのしきい値電流密度の有意な減少をもたらした。さらに,QDは最適その場エッチング条件で成長したモード光学利得パラメータと透明電流密度はLD素子に従来の共振器長分析(CLA)によって抽出した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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半導体薄膜 
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