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J-GLOBAL ID：201702248807978135   整理番号：17A0291066

非対称な分子-電極界面構造を有する単分子接合の電流-電圧特性

著者 (3件)： 小本祐貴 (東京工大 大学院) ,  藤井慎太郎 (東京工大 大学院) ,  木口学 (東京工大 大学院)
資料名： 分子科学討論会講演プログラム&要旨(Web)  (Program & Abstract. Annual Meeting of Japan Society for Molecular Science (Web))
巻： 10th  ページ： ROMBUNNO.2D08 (WEB ONLY)  発行年： 2016年 
JST資料番号： U0350A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 非対称性 ,  界面 ,  *接合 ,  *電流電圧特性 ,  *非対称分子 ,  ゆらぎ ,  膜 ,  電気測定 ,  パターン形成 ,  構造ゆらぎ ,  自己組織化膜 ,  ブレークジャンクション法 ,  ナノ接合
準シソーラス用語： 電極界面 ,  *単分子接合 ,  STM利用パターンニング

分類 (1件)： 半導体-金属接触  (BM03084G)

物質索引 (1件)： 4-アミノベンゼンチオール

タイトルに関連する用語 (5件)： 非対称 ,  分子 ,  電極界面 ,  単分子接合 ,  電圧特性