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J-GLOBAL ID：201702254373453089   整理番号：17A0040660

第1章 粒子の性質と測定 1.6 粒子の表面・界面物性 1.6.3 細孔径分布測定

著者 (3件)： 武井孝 (首都大学東京大学院 都市環境科学研究科 分子応用化学域) ,  藤正督 (名古屋工業大学 先進セラミックス研究センター) ,  高井千加 (名古屋工業大学 先進セラミックス研究センター)
資料名： 粉体工学会誌  (Journal of the Society of Powder Technology, Japan)
巻： 53  号： 10  ページ： 655-666(J-STAGE)  発行年： 2016年 
JST資料番号： S0129A  ISSN： 0386-6157  CODEN： FKKADA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 粒子の細孔径分布測定を次の項目に分類して紹介する。1)大きさ,構造,生成起源によって分類される細孔の分類,2)細孔径分布測定法と測定細孔径範囲,3)ガス吸着法,比較プロット法,Kelvin式を用いる方法,NLDFT法,GCMC法および水銀圧入法,固液の相転移から求める方法,4)ZSM-5とMCM-41の混合物のNDLFTからの細孔径分布,5)アルミナ顆粒粉体層の加圧に伴う細孔径分布の変化。細孔径分布測定とは粒子形状と粒子間付着力,表面構造と粉体諸物性との定量的な測定法である。

シソーラス用語： *粒子 ,  *細孔径分布 ,  細孔径 ,  計測 ,  ZSM-5 ,  MCM-41 ,  アルミナ ,  粉体 ,  表面構造

分類 (1件)： 粉体工学  (XD03010M)

引用文献 (60件)：

• 1) Sing, K. S. W., D. H. Everett, R. A. W. Haul, L. Moscou, R. A. Pierotti, J. Rouquérol and T. Siemieniewska: "Reporting Physisorption Data for Gas/Solid Systems with Special Reference to the Determination of Surface Area and Porosity", <i>Pure & Appl. Chem</i>., <b>57</b>, 603-619 (1985)
• 2) 日本化学会編:"コロイド科学 I.基礎および分散・吸着",pp. 272-274, 東京化学同人 (1995)
• 3) Raman, N. K., M. T. Anderson and C. J. Brinker: "Template-Based Approaches to the Preparation of Amorphous, Nanoporous Silicas", Chem. Mater., 8, 1682-1701 (1996)
• 4) Avery, R. G. and J. D. F. Ramsay: "The Sorption of Nitrogen in Porous Compacts of Silica and Zirconia Powders", J. Colloid Interface Sci., 42, 597-606 (1973)
• 5) Iler, R. K.: "The Chemistry of Silica", p. 179, John Wiley & Sons (1979)

タイトルに関連する用語 (3件)： 粒子の性質 ,  界面物性 ,  細孔径分布