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J-GLOBAL ID：201702275817474809   整理番号：17A0550512

√7×√7周期をもつAl(111)上Ge単層膜の構造評価

著者 (7件)： 遠藤聡 (大阪大 大学院) ,  久保理 (大阪大 大学院) ,  中島規晴 (大阪大 大学院) ,  久家隆太郎 (大阪大 大学院) ,  岩熊征也 (大阪大 大学院) ,  田畑博史 (大阪大 大学院) ,  片山光浩 (大阪大 大学院)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.16p-P4-1  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *薄膜 ,  構造解析 ,  *ゲルマニウム ,  *表面構造 ,  *無機材料 ,  スピン-軌道相互作用 ,  格子 ,  半導体 ,  *単層膜 ,  *ゲルマネン ,  六方格子 ,  *構造
準シソーラス用語： バックリング

分類 (1件)： 半導体薄膜  (BK14040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 周期 ,  Al ,  Ge ,  単層膜 ,  構造評価