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J-GLOBAL ID:201702289640044184   整理番号:17A0418343

Al-Mg-X(X=Si,Ge,Zn)-Cu合金における初期段階時効に形成される微細な析出物に起因するエキストラ電子回折スポット

Extra Electron Diffraction Spots Caused by Fine Precipitates Formed at the Early Stage of Aging in Al-Mg-X (X=Si, Ge, Zn)-Cu Alloys
著者 (12件):
資料名:
巻: 58  号:ページ: 167-175(J-STAGE)  発行年: 2017年 
JST資料番号: G0668A  ISSN: 1345-9678  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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Cuを含む時効硬化可能なAl-Mg-Si,Al-Mg-GeおよびAl-Zn-Mg合金を透過型電子顕微鏡で調べ,選択領域電子回折パターンに現れるエキストラ回折スポットを理解した。Cuを含むこれらの合金は同様のエキストラ回折スポットを互いに示し,Alマトリックスの回折スポットまたはスジおよび各合金の主要な析出物を現す。エキストラスポットはCuフリー合金では確認できない。Al-Mg-Si合金のβ′′相に基づく初期クラスタは,MgSi(/Ge)Mg,CuMgSi(/Ge),AlCuMg,AlZnMgであることを提案し,Cu含有合金については,逆相境界短距離秩序を含む3つの初期クラスタからなる第2のクラスタを提案する。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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組織的硬化現象  ,  熱処理技術 
引用文献 (18件):

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