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J-GLOBAL ID：201702295866315546   整理番号：17A0020760

臨界面積を意識したテストパターン生成と再秩序化【Powered by NICT】

Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering

著者 (3件)： Inuyama Shingo ,  Arai Masayuki ,  Iwasaki Kazuhiko
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ATS  ページ： 191-196  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 縮小特徴サイズと高集積化を可能にした,半導体デバイス製造技術の進歩により,設計の段階で算出される欠陥レベルと作製したデバイスで報告されたものとの間のギャップをもたらした。欠陥準位を正確に推定する一つの可能性のある戦略として,著者らは,重み付きブリッジ故障検出率推定を提案した。本研究では,統一された重み付き故障検出率,橋とオープン故障を考慮したを確立し,高速でコンパクトなテストパターン集合生成を提案した。唯一の第二のパターンセットは高速化のための探索窓をもつ記録が提案した方式は,二段階テストパターン生成を適用した。単純な欲張りベース再秩序化と比較して,実験結果は,10%の初期標的断層サイズと10%ウィンドウサイズを備えた提案方式が10%パターン数増加のための交換における処理時間短縮約10倍を達成することを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 欠陥準位 ,  高速度 ,  加工時間 ,  *テストパターン ,  故障検出 ,  高速化 ,  臨界
準シソーラス用語： ウィンドウサイズ ,  断線 ,  検出率 ,  高集積化 ,  *テストパターン生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： パターン認識  (JE07000S) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 臨界 ,  面積 ,  意識 ,  テストパターン生成 ,  秩序化