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J-GLOBAL ID：200902100325132449   整理番号：00A0020925

荷電粒子検出用CMOSイメージセンサ

CMOS Image Sensor for Charge Particle Detection.

著者 (6件)： 高柳功 (オリンパス光学工業) ,  中村淳一 (オリンパス光学工業) ,  ゆり本尚義 (東京工大) ,  国広卓也 (東京工大) ,  永島一秀 (東京工大) ,  小坂光二 (東京テクノロジー)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 99  号： 374(EID99 47-54)  ページ： 7-12  発行年： 1999年10月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 積層型荷電粒子検出用CMOSイメージセンサを開発した。本セン...

シソーラス用語： 荷電粒子検出 ,...

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分類 (1件)： 撮像・録画装置  (ND12032E)

タイトルに関連する用語 (2件)： 荷電粒子検出 ,  CMOSイメージセンサ