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J-GLOBAL ID：200902147895049584   整理番号：98A0621771

固体撮像素子APSの雑音分析

Noise Analysis of Active Pixel Sensor for Charged Particles.

著者 (5件)： 国広卓也 (東京工大) ,  永島一秀 (東京工大) ,  高柳功 (オリンパス光学工業) ,  平田岳史 (東京工大) ,  ゆり本尚義 (東京工大)
資料名： 地球惑星科学関連学会合同大会予稿集  (Abstracts. Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting)
巻： 1998  ページ： 262  発行年： 1998年05月 
JST資料番号： L1252B  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (3件)： 固体撮像素子 ,  APS ,  雑音分析