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J-GLOBAL ID：200902162426084556   整理番号：97A0216772

磁場中の半導体における熱い電子の40nmピッチの二重スリット実験

A 40-nm-pitch double-slit experiment of hot electrons in a semiconductor under a magnetic field.

著者 (4件)： HONGO H (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  MIYAMOTO Y (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  FURUYA K (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  SUHARA M (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 70  号： 1  ページ： 93-95  発行年： 1997年01月06日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： InP上に作った間隔40nmの二重スリットを通してGaInA...

シソーラス用語： ヒ化ガリウムインジウム ,...

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分類 (1件)： 半導体結晶の電気伝導  (BM03043X)

タイトルに関連する用語 (5件)： 磁場 ,  熱い電子 ,  ピッチ ,  二重スリット ,  実験