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J-GLOBAL ID：200902181266060331   整理番号：02A0353467

非線型分光法によるフタロシアニン薄膜における表面電位の評価

著者 (3件)： 間中孝彰 (東京工大) ,  LI C Q (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan)
巻： 2002  号： 2  ページ： 150  発行年： 2002年03月26日 
JST資料番号： S0653A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *フタロシアニン錯体 ,...
準シソーラス用語： SHG【高調波】 ,...

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分類 (2件)： 八員環以上の複素環化合物  (CF07120T) ,  非線形光学  (BD05000T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 非線型 ,  分光法 ,  フタロシアニン ,  薄膜 ,  表面電位 ,  評価