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J-GLOBAL ID：200902181864318629   整理番号：97A0366076

X線CCDの放射線損傷 CTI(電荷転送非効率)の非一様性の考察

Radiation damage of X-ray CCD. Study on the nonuniformity of CTI ( charge transport inefficiency ).

著者 (7件)： 冨田洋 (京大) ,  小山勝二 (京大) ,  松本浩典 (京大) ,  鶴剛 (京大) ,  粟木久光 (京大) ,  常深博 (大阪大) ,  山本晃永 (浜松ホトニクス)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 1997  号： 春季  ページ： 202  発行年： 1997年 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線CCD ,  放射線損傷 ,  CTi ,  電荷転送 ,  非一様性