ホットエレクトロンの二重スリット干渉実験への有限エネルギー幅の影響  エミッタ構造の設計

HONGO H; MIYAMOTO Y; GAULT M; FURUYA K

文献

J-GLOBAL ID：200902184663829624 整理番号：97A0978249

ホットエレクトロンの二重スリット干渉実験への有限エネルギー幅の影響エミッタ構造の設計

Influence of a finite energy width on the hot electron double-slit interference experiment: A design of the emitter structure.

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資料名：
巻： 82 号： 8 ページ： 3846-3852 発行年： 1997年10月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

エミッタにおけるFermiレベルとスリット間隔に要求される条...

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半導体結晶の電気伝導 , ダイオード

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ホットエレクトロンの二重スリット干渉実験への有限エネルギー幅の影響 エミッタ構造の設計

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