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J-GLOBAL ID：200902187612972502   整理番号：96A0487534

蛍光X線による微量成分分析のための珪質岩石試料の調整

Sample preparation of siliceous rock for quantitative analysis of trace elements by X-ray fluorescence method.
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著者 (2件)：
樋口靖

樋口靖 について

(愛媛大 理)

愛媛大 理 について

, 
堀利栄

堀利栄 について

(愛媛大 理)

愛媛大 理 について


資料名：
愛媛大学理学部紀要  (Memoirs of the Faculty of Science, Ehime University)

愛媛大学理学部紀要 について


巻： 2  ページ： 1-14  発行年： 1996年 
JST資料番号： L1796A  ISSN： 0919-5203  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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蛍光X線分析による珪質岩石試料(チャート)中の微量元素の定量...
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試料調製

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分類 (1件)：
分類
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鉱物・岩石・鉱石の物理分析 
(CC03090Y)

鉱物・岩石・鉱石の物理分析 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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蛍光X線

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微量成分分析

微量成分分析 について

, 
岩石試料

岩石試料 について


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