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J-GLOBAL ID：200902190853114893   整理番号：02A0077592

SHG法による有機・金属界面電位の検出

Analysis of Electrostatic Phenomena at CuttbPc LB Film/Metal Interface by SHG.

著者 (4件)： LI C-Q (東京工大) ,  CHENG X-M (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大)
資料名： 電気学会誘電・絶縁材料研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： DEI-01  号： 104-113  ページ： 1-6  発行年： 2001年10月26日 
JST資料番号： Z0908B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 金属をコートしたガラス基板上のCuttbPc Langmui...

シソーラス用語： *界面 ,...
準シソーラス用語： LB膜 ,...

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分類 (2件)： 界面の電気的性質一般  (BM03081H) ,  非線形光学  (BD05000T)

物質索引 (1件)： ポルフィリン

引用文献 (21件)：

• FRANKEN, P. Phys. Rev. Lett. 1961, 7, 118
• ARMSTRONG, J. A. Phys. Rev. 1962, 127, 1918
• BLOEMBERGEN, N. Phys. Rev. 1962, 128, 606
• BLOEMBERGEN, N. Nonlinear Optics. 1965
• SHEN, Y. R. The Principles of Nonlinear Optics. 1984

タイトルに関連する用語 (2件)： SHG ,  界面電位