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J-GLOBAL ID：200902204045500744   整理番号：09A1034361

光干渉法により測定したポリイミド薄膜における屈折率と膜厚の温度変化[II]

著者 (2件)： 関口健治 (東京工大 大学院) ,  安藤慎治 (東京工大 大学院)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 58  号： 2 Disk1  ページ： ROMBUNNO.3E-08  発行年： 2009年09月01日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 変位 ,  *屈折率 ,  温度依存性 ,  *熱膨張係数 ,  *膜厚 ,  *ポリイミド ,  高分子薄膜 ,  干渉測定 ,  *配向 ,  *光干渉 ,  *干渉分光法 ,  面内変位
準シソーラス用語： 熱光学係数 ,  *熱膨張率

分類 (4件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  その他の高分子材料  (YH07150C) ,  光物性一般  (BM08010A) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光干渉法 ,  ポリイミド薄膜 ,  屈折率 ,  膜厚 ,  温度変化