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J-GLOBAL ID：200902226654782334   整理番号：09A0653509

電磁界シミュレータを用いたディエンベディング手法

De-embedding Method Using EM Simulator

著者 (5件)： 平野拓一 (東京工大) ,  中野洋 (アムシス) ,  平地康剛 (アムシス) ,  広川二郎 (東京工大) ,  安藤真 (東京工大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 109  号： 62(MW2009 9-17)  ページ： 35-40  発行年： 2009年05月21日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： MMICを高精度に設計するためには正確にFETの特性を知る必要がある。従来より,FET-TEGとOpen/Short-TEGのSパラメータ実測および等価回路を仮定する方法が用いられている。著者らは,電磁界(EM)シミュレータを併用した,より高精度なディエンベディング手法を提案した。提案手法では,4ポート寄生回路のSパラメータを電磁界シミュレータで解析し,行列演算によって内部に埋め込まれた2ポートの集中定数素子のZ(Y)行列を抽出する。また,従来のディエンベディング手法では,(1)寄生回路を等価回路で近似すること,そして,(2)Open/Short-TEGのパターンを理想的な集中定数のOpen/Shortと見なすことの2点が不安要因であり,精度の悪化が懸念されていた。(1)が誤差の主要因であることがわかった。(著者抄録)

シソーラス用語： シミュレータ ,  *FET【トランジスタ】 ,  マイクロ波集積回路 ,  等価回路 ,  抽出 ,  誤差 ,  ネットワークアナライザ ,  *電磁場シミュレータ
準シソーラス用語： *ディエンベディング ,  *マイクロ波IC ,  *電磁界シミュレータ

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

引用文献 (8件)：

• KOOLEN, M. C. A. M. An improved de-embedding technique for on-wafer high-frequency characterization. Proc. IEEE, Bipolar/BiCMOS Circuits and Tech. Meeting, Sept. 1991. 1991, 188-191
• HIRANO, T. De-embedding of lumped-element characteristics with the aid of EM analysis. Digest of IEEE AP-S International Symposium, Session : 436.3, San Diego, CA, USA, July 5-12, 2008. 2008
• BOUSNINA, S. An accurate on-wafer deembedding technique with application to HBT devices characterization. IEEE Trans. MTT. 2002, 50, 2, 420-424
• Ansoft. LLC. http://www.ansoft.com/products/hf/hfss/
• ENGEN, G. F. Calibration Technique for Automated Network Analyzers with Application to Adapter Evaluation. IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 1974, MTT-22, 12, 1255-1259

タイトルに関連する用語 (2件)： 電磁界シミュレータ ,  手法