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J-GLOBAL ID：200902241372387768   整理番号：09A0575799

固体¹⁹F MAS NMR法を用いた多フッ素化分子/シクロデキストリン包接体の構造解析

著者 (3件)： 小糸祐介 (東京工大 大学院) ,  滝上義康 (東京工大 大学院) ,  安藤慎治 (東京工大 大学院)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 58  号： 1 Disk1  ページ： 3PB058  発行年： 2009年05月12日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： MASNMR ,  フッ素19NMR ,  *包接化合物 ,  結晶構造解析 ,  X線回折 ,  *有機フッ素化合物 ,  配座転移 ,  デキストリン ,  シクロデキストリン
準シソーラス用語： *包接錯体

分類 (2件)： 分子化合物  (CE02000C) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

物質索引 (1件)： β-シクロデキストリン

タイトルに関連する用語 (7件)： 固体 ,  MAS ,  NMR ,  フッ素化 ,  分子 ,  シクロデキストリン ,  構造解析