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J-GLOBAL ID：200902244865993038   整理番号：08A0231199

ナノ・マイクロ材料の超高サイクル疲労信頼性試験装置の開発

System for Very High Cycle Fatigue Reliability Assessment of Nano/Micromaterials

著者 (8件)： CHEN Qiang (高知工高専) ,  橋口原 (香大 工) ,  皮籠石紀雄 (鹿児島大 工) ,  鈴木勝順 (香大 院) ,  楠川量啓 (高知工科大) ,  酒井達雄 (立命館大) ,  村井正徳 (高知工技セ) ,  堀邊英夫 (金沢工大)
資料名： 日本機械学会M&M材料力学カンファレンス(CD-ROM)  (日本機械学会M&M材料力学カンファレンス講演論文集(CD-ROM))
巻： 2007  ページ： ROMBUNNO.506  発行年： 2007年10月23日 
JST資料番号： L0191B  ISSN： 2424-2845  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *信頼性試験 ,  ナノ構造 ,  材料 ,  薄膜 ,  ポリシリコン ,  LPCVD ,  ナノ材料 ,  *高サイクル疲労 ,  *疲れ
準シソーラス用語： *高サイクル疲れ

分類 (1件)： セラミック材料  (HC05040O)

タイトルに関連する用語 (4件)： マイクロ ,  高サイクル疲労 ,  信頼性試験 ,  開発