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J-GLOBAL ID：200902254864100647   整理番号：08A0109493

電子顕微鏡による高分子界面と接着に関する研究

Study of Polymer Interface and Adhesion by Energy-Filtering TEM and High-Resolution SEM

著者 (3件)： 堀内伸 (産業技術総合研 ナノテクノロジー研究部門) ,  LIAO Yong-Gui (産業技術総合研 ナノテクノロジー研究部門) ,  扇澤敏明 (東京工大 大学院)
資料名： 高分子論文集  (Japanese Journal of Polymer Science and Technology)
巻： 65  号： 1  ページ： 58-66  発行年： 2008年01月25日 
JST資料番号： G0122A  ISSN： 0386-2186  CODEN： KBRBA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： エネルギーフィルターTEM(EFTEM),高分解能SEMおよ...

シソーラス用語： 透過型電子顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： マッピング

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分類 (2件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  物理的性質一般  (YH02021U)

引用文献 (35件)：

• 1) 倉田博基, 小林隆史, 電子顕微鏡, 30, 53 (1995).
• 2) 倉田博基, 小林隆史, 電子顕微鏡, 30, 175 (1995).
• 3) C. C. Ahn ed., “Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Material Science and the EELS ATLAS”, Wiley-VCH, Weinheim (2004).
• 4) L. Reimer ed., “Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy”, Springer-Verlag (1995).
• 5) 堀内 伸, 顕微鏡, 42, 139 (2007).

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子顕微鏡 ,  高分子 ,  界面 ,  研究