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J-GLOBAL ID：200902264060917638   整理番号：06A0023495

ケルビン法及び各種分光法によるAlq3薄膜の巨大表面電位発生と消失に関する研究

Investigation of giant surface potential of Alq3 films by Kelvin probe method and second-harmonic generation measurement

著者 (3件)： 梶本典史 (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 105  号： 425(OME2005 80-93)  ページ： 23-27  発行年： 2005年11月17日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： アルミ電極上に形成したAlq3(Tris(8-quinoli...

シソーラス用語： *蒸着膜 ,...
準シソーラス用語： Alq3薄膜 ,...

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分類 (2件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C)

タイトルに関連する用語 (5件)： ケルビン法 ,  分光法 ,  薄膜 ,  表面電位 ,  研究