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J-GLOBAL ID：200902266470144221   整理番号：06A0923619

液晶分子蒸着過程の表面電位測定と界面構造の解析

Surface potential measurements and analysis of the interfacial structure of the evaporated liquid crystal thin film

著者 (5件)： 北澤和紀 (東京工大) ,  田口大 (東京工大) ,  浜津誠 (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大)
資料名： 電気学会誘電・絶縁材料研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： DEI-06  号： 59-68  ページ： 5-8  発行年： 2006年10月27日 
JST資料番号： Z0908B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 液晶セルの理解と性能向上には,液晶分子の配向が重要である。こ...

シソーラス用語： *液晶 ,...
準シソーラス用語： オーダパラメータ ,...

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分類 (1件)： 液晶一般  (BK03010L)

物質索引 (1件)： 5CB

引用文献 (7件)：

• 吉野勝美・尾崎雅則:「液晶とディスプレイ応用の基礎」, コロナ社 (1994)
• M. Iwamoto, C. X. Wu: The Physical Properties of Organic Monolayer, World Scientific (2001)
• V. S. L’vov et al, Chem. Phys. Lett., 381(2003)650-653
• D. Taguchi et al, Colloids and Surface A, 284-285(2006)263-266
• T. Manaka et al, IEICE Trans. Electron., E87-C (2004)183-184

タイトルに関連する用語 (5件)： 液晶分子 ,  蒸着過程 ,  電位測定 ,  界面構造 ,  解析