文献

J-GLOBAL ID：200902267728301463   整理番号：06A0232495

低周波磁場欠陥検査手法の開発

著者 (3件)： 石原雄大 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan)
巻： 2006  号： 2  ページ： 169  発行年： 2006年03月15日 
JST資料番号： S0653A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 非破壊検査 ,...
準シソーラス用語： *磁気探傷検査 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=06A0232495&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0653A") }}

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低周波 ,  磁場 ,  欠陥検査 ,  手法 ,  開発