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J-GLOBAL ID:200902270593222186   整理番号:09A0547257

電磁界シミュレータを併用したディエンベディング手法の損失性基板への適用

著者 (5件):
資料名:
巻: 2009  号: エレクトロニクス1  ページ: 123  発行年: 2009年03月04日 
JST資料番号: G0508A  ISSN: 1349-1369  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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電磁界シミュレータを併用したディエンベディング手法の損失性基板への適用性をシミュレーションで検討した。従来のOpen/Short-TEGを用いる手法では基板の導電率が大きくなると素子値抽出精度が悪化するが,提案手法では悪化せず,精度も従来手法より高いことがわかった。(著者抄録)
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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