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J-GLOBAL ID：200902270615243670   整理番号：08A1231546

走査プローブを用いた熱い電子回折観測の設計とシミュレーション:観測可能性の定量的評価

Design and Simulation of Hot-Electron Diffraction Observation Using Scanning Probe: Quantitative Evaluation of Observation Possibility

著者 (3件)： NISHIMURA So (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  FURUYA Kazuhito (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  MIYAMOTO Yasuyuki (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 47  号： 11  ページ： 8652-8658  発行年： 2008年11月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半導体における弾道的熱い電子の拡張波面を伴う波動伝播を調べるために,電子波回折を観測する可能性を評価した。そのような回折は移送回路により引き起こされ,走査プローブを用いて観測される。理論的に模擬した信号と実験雑音間の定量的比較により,デバイスの構造を最適化した。パターンはそのような回折に特有のピークをもつと予想される。ピークの高さは,電流測定そして非一様性により生じる空間的ゆらぎにおける雑音のそれより2倍高かった。このように,電流測定における雑音水準を低下させることにより観測実験における成功と許容差の確率を増大させることが可能である。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *電子回折 ,  *ホットエレクトロン ,  *波動伝搬 ,  最適化 ,  ゆらぎ ,  雑音 ,  *弾道電子 ,  計算機シミュレーション ,  改変 ,  計算機利用 ,  利用

分類 (1件)： 電気物性一般  (BM03010R)

引用文献 (23件)：

• K. Furuya: J. Appl. Phys.62(1987)1492.
• A. Tonomura, T. Matsuda, R. Suzuki, A. Fukuhara, N. Osakabe, H. Umezaki, J. Endo, K. Shinagawa, Y. Sugita, and H. Fujiwara: Phys. Rev. Lett.48(1982)1443.
• A. Yacoby, U. Sivan, C. P. Umbach, and J. M. Hong: Phys. Rev. Lett.66(1991)1938.
• R. Crook, C. G. Smith, C. H. W. Barnes, M. Y. Simmons, and D. A. Ritchie: J. Phys.: Condens. Matter 12(2000) L167.
• M. A. Topinka, B. J. LeRoy, R. M. Westervelt, S. E. J. Shaw, R. Fleischmann, E. J. Heller, K. D. Maranowski, and A. C. Gossard: Nature 410(2001)183.

タイトルに関連する用語 (8件)： 走査 ,  プローブ ,  電子回折 ,  観測 ,  設計 ,  シミュレーション ,  観測可能性 ,  定量的評価