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J-GLOBAL ID：200902272987568331   整理番号：05A0538201

半導体におけるホットエレクトロンに関する二重スリット干渉観測 実験データの解析

Double-Slit Interference Observation of Hot Electrons in Semiconductors-Analysis of Experimental Data-

著者 (4件)： FURUYA Kazuhito (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  NINOMIYA Yasunori (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  MACHIDA Nobuya (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  MIYAMOTO Yasuyuki (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 44  号： 5A  ページ： 2936-2944  発行年： 2005年05月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： この論文は,固体内のホットエレクトロンに関する二重スリット干...

シソーラス用語： *ホットエレクトロン ,...

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分類 (1件)： 半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

引用文献 (33件)：

• 1) C. J. Davisson: Nobel Lecture (1937).
• 2) C. Jonsson: Zeitschrift fur Physik 161 (1961) 454.
• 3) A. Tonomura, T. Matsuda, R. Suzuki, A. Fukuhara, N. Osakabe, H. Umezaki, J. Endo, K. Shinagawa, Y. Sugita and H. Fujiwara: Phys. Rev. Lett. 48 (1982) 1443.
• 4) Mesoscopic Physics and Electronics, Nanoscience and Technology, eds. T. Ando, Y. Arakawa, K. Furuya, S. Komiyama and H. Nakashima, (Springer, Berlin, 1997).
• 5) K. Furuya: J. Appl. Phys. 62 (1987) 1492.

タイトルに関連する用語 (6件)： ホットエレクトロン ,  二重スリット ,  干渉 ,  観測 ,  実験データ ,  解析