文献

J-GLOBAL ID：200902276660396060   整理番号：09A0575029

光干渉法により測定したポリイミド薄膜における屈折率と膜厚の温度変化[I]

著者 (2件)： 関口健治 (東京工大 大学院) ,  安藤慎治 (東京工大 大学院)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 58  号： 1 Disk1  ページ： 2J25  発行年： 2009年05月12日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *光干渉法 ,  *BPDAポリイミド ,  *屈折率 ,  *熱膨張係数 ,  分子構造 ,  分子鎖 ,  分子配向 ,  ガラス転移点 ,  温度依存性 ,  *膜厚 ,  *高分子薄膜 ,  イミド化 ,  BPDA-PDA【重合体】
準シソーラス用語： BPDA-DCHM ,  BPDA-PDA ,  BPDA-TFDB

分類 (2件)： 重縮合  (CG04050Z) ,  高分子固体の物理的性質  (CG02024U)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光干渉法 ,  ポリイミド薄膜 ,  屈折率 ,  膜厚 ,  温度変化