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J-GLOBAL ID：200902277499259070   整理番号：08A0288361

複素誘電率測定基板と導電率測定基板を同一形状としたウィスパリングギャラリー共振器法測定精度向上

著者 (4件)： HUONG Tran Thi (東京工大 大学院) ,  広川二郎 (東京工大 大学院) ,  古神義則 (宇都宮大 大学院) ,  安藤真 (東京工大 大学院)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2008  号： エレクトロニクス1  ページ： 123  発行年： 2008年03月05日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 同じ形状の基板で同じ周波数で銅箔ガラスクロス積層基板の複素誘電率と実効導電率の周波数特性を測定し測定精度向上を実現した。従来56.8GHzで電界銅箔の導電率が銅の標準導電率の56%となったが,今回同一形状の基板の複素誘電率の測定値を用いると,導電率が35%程度となった。(著者抄録)

シソーラス用語： *共振器 ,  *誘電率 ,  *基板 ,  電気伝導率 ,  *測定精度 ,  周波数特性
準シソーラス用語： *導電率

分類 (1件)： 共振器  (NC04050Y)

タイトルに関連する用語 (4件)： 複素誘電率 ,  導電率測定 ,  共振器 ,  測定精度