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J-GLOBAL ID：200902280604275738   整理番号：09A1146311

低周波磁場を用いた漏洩磁束探傷試験

著者 (4件)： 吉岡光輝 (岡山大 大学院自然科学研究科) ,  川崎喜彦 (岡山大 大学院自然科学研究科) ,  紀和利彦 (岡山大 大学院自然科学研究科) ,  塚出啓二 (岡山大 大学院自然科学研究科)
資料名： 電気・情報関連学会中国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (電気・情報関連学会中国支部連合大会(CD-ROM))
巻： 60th  ページ： ROMBUNNO.3-3  発行年： 2009年10月02日 
JST資料番号： L1892B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *磁気検査 ,  *漏れ磁束 ,  LF【周波数】 ,  磁場 ,  磁気抵抗 ,  磁気ヘッド ,  磁気抵抗効果 ,  酸化腐食 ,  送信機 ,  印加電圧 ,  MRヘッド ,  腐食
準シソーラス用語： *磁気探傷検査 ,  磁気抵抗効果ヘッド ,  低周波 ,  発信器 ,  *漏洩磁束

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  電磁気学一般  (BD01020N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 低周波 ,  磁場 ,  漏洩磁束 ,  探傷試験