文献

J-GLOBAL ID：200902290533704352   整理番号：07A0001388

EFTEMによる高分子界面ナノ構造の解析と接着に関する研究

著者 (3件)： 堀内伸 (産総研 ナノテク部門) ,  LIAO Yongui (産総研 ナノテク部門) ,  扇澤敏明 (東京工大 大学院)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 55  号： 2 Disk1  ページ： 2Q13  発行年： 2006年09月05日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ポリアクリロニトリル-スチレン ,...
準シソーラス用語： *エネルギーフィルタリング透過型電子顕微鏡観察

   このテーマを更に深掘りする（JDreamⅢへ）  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0001388&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Z0703C") }}

分類 (2件)： 高分子固体のその他の性質  (CG02025L) ,  固-固界面  (CB12060M)

タイトルに関連する用語 (6件)： EFTEM ,  高分子 ,  界面 ,  ナノ構造 ,  解析 ,  研究