文献

J-GLOBAL ID：200902295722219670   整理番号：07A0316718

銅箔挟込誘電体基板のミリ波帯導電率測定と両面銅貼基板との比較

著者 (4件)： TRAN Thi Huong (東京工大 大学院) ,  広川二郎 (東京工大 大学院) ,  古神義則 (宇都宮大 大学院) ,  安藤真 (東京工大 大学院)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2007  号： エレクトロニクス 1  ページ： 123  発行年： 2007年03月07日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 銅箔接触面だけを有する銅箔挟込基板を用いてWG共辰器法により...

シソーラス用語： *電気伝導率 ,...

   このテーマを更に深掘りする（JDreamⅢへ）  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0316718&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0508A") }}

分類 (1件)： その他の電磁気的量の計測法・機器  (AD07070F)

タイトルに関連する用語 (7件)： 銅箔 ,  挟込 ,  誘電体基板 ,  ミリ波 ,  導電率測定 ,  両面 ,  銅