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J-GLOBAL ID：200902299148801484   整理番号：09A0424247

サーモグラフィを用いた薄膜アモルファス合金の結晶化開始温度のコンビナトリアル評価法

著者 (4件)： 青野祐子 (東京工大) ,  桜井淳平 (東京工大 精密工研) ,  秦誠一 (東京工大 精密工研) ,  下河辺明
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 56th  号： 2  ページ： 670  発行年： 2009年03月30日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *非晶質合金 ,  結晶化 ,  *サーモグラフィー ,  評価 ,  放射率 ,  *プラセオジム合金 ,  銅含有合金 ,  ケイ素含有合金 ,  電気抵抗 ,  X線回折 ,  示差走査熱量測定 ,  熱画像 ,  *合金薄膜
準シソーラス用語： *コンビナトリアル評価 ,  *結晶化温度

分類 (2件)： 金属薄膜  (BK14030T) ,  固相転移  (BL04020G)

タイトルに関連する用語 (6件)： サーモグラフィ ,  薄膜 ,  アモルファス合金 ,  結晶化 ,  開始温度 ,  評価法