特許
J-GLOBAL ID：200903004772330350
物理現象解析支援方法、物理現象解析支援システム、物理現象解析支援プログラム
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
須山 佐一
, 川原 行雄
, 山下 聡
, 須山 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-304138
公開番号（公開出願番号）：特開2007-114930
出願日： 2005年10月19日
公開日（公表日）： 2007年05月10日
要約：
【課題】連成的に物理現象解析を行うため効率的にモデル作成すること。【解決手段】解析対象についてのある1次元変位の異なる複数の位置における断面の情報を、該断面それぞれ内における位置に対応づけられた使用材料または材料の2次元画像データとして得、解析対象のメッシュ分割により生じた各要素の使用材料または材料を、上記2次元画像データを使って特定し、解析対象についてのある1次元変位の異なる複数の位置における断面のある物理量の分布情報を、該断面それぞれ内におけるコンター図形データとして生成し、物理現象解析の境界条件または負荷条件の少なくとも一部として、上記メッシュ分割により生じた各要素または該各要素により生じる各節点に、上記複数のコンター図形データを使って物理量を対応させる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1の物理現象解析の結果または実験の結果を踏まえて行う第2の物理現象解析を支援するための物理現象解析支援方法であって、
前記第2の物理現象解析の解析対象に関する3次元設計図または3次元構造解析結果から、該解析対象についてのある1次元変位の異なる複数の位置における断面の情報を、該断面それぞれ内における位置に対応づけられた使用材料または材料の2次元画像データとして得る第1の工程と、
前記解析対象を前記第2の物理現象解析のためメッシュ分割し、該メッシュ分割により生じた各要素の使用材料または材料を、前記複数の位置における断面についての前記2次元画像データを使って特定し解析モデルを生成する第2の工程と、
前記第1の物理現象解析の結果または前記実験の結果から、前記解析対象についての前記ある1次元変位の異なる複数の位置における断面のある物理量の分布情報を、該断面それぞれ内におけるコンター図形データとして生成する第3の工程と、
前記第2の物理現象解析の境界条件または負荷条件の少なくとも一部として、前記メッシュ分割により生じた前記各要素または該各要素により生じる各節点に、前記複数のコンター図形データを使って物理量を対応させる第4の工程と
を具備することを特徴とする物理現象解析支援方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F17/50 612J
, G06F19/00 110
