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J-GLOBAL ID：201002213858435729   整理番号：10A1104521

長期充放電測定によるRAカーボンゲル電極の安定性の評価

著者 (4件)： 土田光 (関大 院) ,  中川清晴 (関大 院) ,  小田廣和 (関大 院) ,  小田廣和 (関大 HRC)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 71st  ページ： ROMBUNNO.15P-ZK-19  発行年： 2010年08月30日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *炭素材 ,  ナノ粒子 ,  細孔 ,  多孔質体 ,  *充放電サイクル ,  *電力コンデンサ ,  X線光電子スペクトル ,  硫酸 ,  過塩素酸リチウム ,  ポリカーボネート ,  静電容量 ,  BET法 ,  脂肪族アルデヒド ,  多価フェノール ,  *スーパーキャパシタ ,  メソ孔
準シソーラス用語： *EDLC ,  メソ細孔 ,  電気容量

分類 (2件)： 静電機器  (NB10020R) ,  電極過程  (CB07040U)

物質索引 (2件)： アセトアルデヒド ,  レゾルシノール

タイトルに関連する用語 (7件)： 長期 ,  充放電 ,  Ra ,  カーボン ,  ゲル ,  安定性 ,  評価