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J-GLOBAL ID：201002236729419377   整理番号：10A0997028

Si-CMOS基板上ダミーメタル入り伝送線路特性の固有値解析と測定

著者 (5件)： 小野雄也 (東京工大) ,  平野拓一 (東京工大) ,  岡田健一 (東京工大) ,  広川二郎 (東京工大) ,  安藤真 (東京工大)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2010  号： エレクトロニクスソサイエティ1  ページ： S.5-S.6  発行年： 2010年08月31日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ダミーメタル入り伝送線路の伝搬定数の固有値解析を行い,試作した伝送線路の実験値と比較を行った。ダミーが無いとき,有るときの損失の計算値は60GHzにおいて,それぞれ1.02dB/mm,1.22dB/mm,実験値はそれぞれ0.93dB/mm,1.15dB/mmとなり,周波数特性の傾向は計算と測定でよく一致した。(著者抄録)

シソーラス用語： 伝送線路 ,  解析 ,  CMOS構造 ,  ケイ素 ,  伝搬定数 ,  伝送損失 ,  EHF波 ,  周波数特性 ,  *マイクロストリップ線路 ,  *性能分析 ,  *伝送特性 ,  MOS構造
準シソーラス用語： Si ,  ミリ波 ,  固有値解析 ,  *特性解析

分類 (1件)： 伝送線  (NC04030C)

タイトルに関連する用語 (6件)： Si ,  CMOS ,  ダミー ,  メタル ,  伝送線路特性 ,  固有値解析