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J-GLOBAL ID：201002269899788127   整理番号：10A0464683

電場誘起光第2次高調波発生による有機EL積層界面の電荷蓄積と輝度劣化特性の評価

著者 (8件)： 田口大 (東京工大) ,  ZHANG Le (東京工大) ,  WEIS Martin (東京工大) ,  WEIS Martin (スロバキア科学アカデミー) ,  長田憲司朗 (東京工大) ,  LI Jun (東京工大) ,  間中孝彰 (東京工大) ,  岩本光正 (東京工大)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 57th  ページ： ROMBUNNO.20A-ZK-11  発行年： 2010年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *第二高調波発生 ,  *エレクトロルミネセンス ,  *有機半導体 ,  層 ,  *界面 ,  *帯電 ,  *輝度 ,  *電場 ,  積層 ,  有機EL
準シソーラス用語： 電荷蓄積 ,  電場誘起光第2次高調波発生

分類 (2件)： 有機化合物のルミネセンス  (BM08094A) ,  発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (8件)： 電場 ,  誘起 ,  2次高調波発生 ,  有機EL ,  界面 ,  電荷蓄積 ,  輝度 ,  評価