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J-GLOBAL ID：201002287101997715   整理番号：10A0332816

溶接部内部欠陥検出用磁気センサアレイプローブの開発

著者 (6件)： 三宅康介 (岡山大) ,  萬治寧大 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大) ,  櫻本昌宏 (三造試験センター) ,  井上勝美 (三造試験センター)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan)
巻： 2010  号： 2  ページ： 125  発行年： 2010年03月05日 
JST資料番号： S0653A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 溶接部 ,  *溶接欠陥 ,  *内部欠陥 ,  故障検出 ,  *磁気センサ ,  センサアレイ ,  *プローブ ,  磁気抵抗 ,  *欠陥
準シソーラス用語： *欠陥検出 ,  溶接部欠陥

分類 (3件)： 溶接欠陥  (WC07130P) ,  非破壊試験  (HB02030F) ,  磁電デバイス  (NC03100X)

タイトルに関連する用語 (5件)： 溶接部 ,  内部欠陥 ,  磁気センサ ,  アレイプローブ ,  開発