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J-GLOBAL ID：201102211139577990   整理番号：11A1416785

層状Rashba物質HiTeIの分光イメージング測定

著者 (5件)： 幸坂祐生 (理研) ,  加納学 (東京工大 応用セラミックス研) ,  高木英典 (理研) ,  高木英典 (東大 大学院) ,  笹川崇男 (東京工大 応用セラミックス研)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 66  号： 2 第4分冊  ページ： 708  発行年： 2011年08月24日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *化合物半導体 ,  *ビスマス化合物 ,  テルル化合物 ,  ヨウ素化合物 ,  *層状化合物 ,  絶縁材料 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  *表面テラス ,  絶縁体 ,  トポロジカル絶縁体 ,  Rashbaスピン-軌道相互作用

分類 (1件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 層状 ,  物質 ,  分光イメージング